芯片表面清潔度測試的標準和原理主要包括以下內容：

標準：芯片表面清潔度測試的標準主要包括國際標準和行業標準。例如，國際半導體技術路線圖（ITRS）中規定了芯片表面粒子的尺寸和數量等指標;行業標準如SEMI SPM（Surface Particle Measurement）等。

原理：芯片表面清潔度測試的原理主要是通過對芯片表面粒子的計數和分類來評估芯片表面的清潔度。常用的測試方法包括激光散射、原子力顯微鏡、掃描電子顯微鏡等。

在激光散射測試中，將激光照射在芯片表面，通過測量粒子對激光的散射來評估表面粒子的數量和尺寸。在原子力顯微鏡測試中，通過掃描芯片表面，通過探針和芯片表面之間的相互作用力來確定表面的粒子形態和數量。在掃描電子顯微鏡測試中，通過電子束掃描芯片表面，通過測量電子與樣品表面反射的信號來確定表面粒子的尺寸和分布。

以上是常見的芯片表面清潔度測試標準和原理，具體測試方法和參數設置需要根據具體的應用需求進行選擇和優化。