探針表面清潔度測試通常使用的標準包括 MIL-STD-883和IPC-9701。測試方法可以使用紅外顯微鏡、顯微攝影、顯微鏡、X射線衍射、掃描電子顯微鏡等。

原理上，探針表面清潔度測試主要是通過檢測探針表面的有機物、無機物或氧化物等殘留物的含量來評估其表面清潔度。一般來說，殘留物的含量越少，探針表面的清潔度就越高。常用的測試方法是通過對探針表面進行溶劑擦拭、超聲波清洗、離子清洗等方式進行表面清潔，并使用合適的分析儀器對殘留物的含量進行測試和分析。這些分析儀器可以對殘留物進行化學分析、物理分析和光學分析等。

扁線電機表面清潔度測試的標準和原理與其他電子元器件的表面清潔度測試相似，通常采用視覺檢查和粒子計數器等測試方法。

其中，視覺檢查可以通過人工目測或顯微鏡觀察來進行，檢查表面是否存在雜質、污染和劃痕等，是否符合產品規格的要求。

粒子計數器則是通過檢測表面上的微粒數量和大小來評估表面清潔度的方法。常見的粒子計數器包括激光粒度分析儀、光學顆粒計數器等，這些設備可以檢測出表面上微米級別的顆粒和納米級別的顆粒。

對于扁線電機表面清潔度的測試，可以參考國際電工委員會（IEC）頒布的相關標準，如IEC 60034-14和IEC 60034-15。具體測試方法和參數要求應根據產品規格和應用要求進行調整和制定。